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Colloque
Cette présentation portera sur la caractérisation des nanomatériaux en microscopie électronique à haute résolution spatiale, tant en balayage qu’en transmission avec un microscope à effet de champs Hitachi SU-8000. Ce microscope possède 5 détecteurs d’électrons (1 upper pour les secondaires, un top pour les rétro à fort angle, un lower, un retro 5 quadrants et un detecteur d’électrons transmis) ainsi qu’un détecteur EDS SDD de rayons-x et un détecteur EBSD. CE microscope, qui à une résolution spatiale de 0.5 nm à 30 keV, est un outil de chois pour caractériser les nanomatériaux. Des exemples pour la caractérisation de fins précipités …
