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pen icon Colloque
Optimisation de la séquence de tests pour la détection de panne d'un système sujet à un bris aléatoire
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Dans le processus de remise en opération d'un système de production défaillant, l'étape de diagnostic est à l'origine des durées prolongées d'inactivité. Une séquence de tests permettant de connaître l'état des composants est alors à générer. Si un coût de test est associé à chacun des tests, il faut alors sélectionner la séquence optimale de tests permettant de détecter le composant responsable de la défaillance, et ce avec un coût minimal. Dans la première partie seront détaillées plusieurs procédures de génération de séquence de tests, dans le cas de tests parfaits (un test est qualifié de parfait s'il révèle avec …

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