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Spectroscopie photoacoustique de l'algue bleue-verte Anacystis nidulans
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La spectroscopie photoacoustique permet de mesurer les désactivations thermiques des molécules. Cependant, l'interprétation quantitative des résultats relatifs aux matériaux biologiques demeure hasardeuse à cause du manque de connaissance des propriétés physiques de ce genre d'échantillon. Dans le but d'étudier l'algue bleue-verte Anacystis nidulans, nous avons déposé des couches d'algues d'épaisseur contrôlable sur filtre de nitrocellulose. Nous avons montré que l'intensité du signal photoacoustique est surtout limitée par la longueur de pénétration optique. Un spectre variant représentatif d'un rendement quantique de désactivation thermique peut être obtenu que par extrapolation à une épaisseur infiniment petite. À une épaisseur où la saturation de …

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Transfert d'électron entre la chlorophylle a et la phéophytine a en multicouche
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La phéophytine a (Phé a) joue un rôle important dans la photosynthèse des plantes vertes, agissant probablement comme accepteur primaire du photosystème II. Il est possible d'étudier le transfert d'électron entre la chlorophylle a (chl a) et la Phé a en mesurant les propriétés photovoltaïques de multicouche de chl a et Phé a pris en sandwich entre deux électrodes d'aluminium et d'argent. Les résultats montrent que les propriétés photovoltaïques de chl a ne sont pas modifiées si on lui ajoute jusqu'à 0.3 en fraction molaire de Phé a. Si la fraction molaire de Phé a ajoutée aux cellules atteint 0.5, …

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Mise au point d'un ellipsomètre permettant l'examen de monocouche à l'interface air-eau
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L'ellipsométrie est une technique optique non destructive qui permet entre autres, de calculer les changements d'épaisseur et d'indices de réfraction d'une monocouche. Dans cette perspective, nous avons construit et mis au point un ellipsomètre. Une lumière polarisée elliptiquement est réfléchie sur un échantillon. L'état de polarisation de la lumière réfléchie est analysé par un prisme suivi d'un photomultiplicateur. Les mesures permettent de calculer le retard relatif de phase ainsi que le rapport relatif d'amplitude des composantes parallèles et perpendiculaires au plan d'incidence. Ces deux paramètres sont interprétés en termes des propriétés de la monocouche.

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Ellipsométrie à longueurs d'onde multiples: épaisseur et indices de réfraction de films minces, uniaxials, non absorbants
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L'ellipsométrie à longueurs d'onde multiples a été proposée par Ayoub et Bashara comme une méthode capable de caractériser un film mince, uniaxial, déposé sur un substrat non absorbant. Selon ces auteurs, si l'on mesure la différence de phase δ = A−Δ on obtient une solution unique pour les indices de réfraction du film (nμ et n∥) et l'épaisseur de celui-ci (d). Cette solution existe si par le biais de varier n3, on n'affecte pas les valeurs de nμ, n∥ et d. Leur argument est qu'en mesurant δ pour trois valeurs différente de n3, ils égèrent trois équations simultanées pour les …

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